Сергей из Киева
05.10.2010, 19:47
Разместил на своём сайте сокращенный перевод статьи американского инженера Кристофера Траска, в которой автор описывает способ оценки полевых транзисторов на предмет вносимых интермодуляционных искажений по их статическим выходным характеристикам. Способ проиллюстрирован на примере выходных характеристик десяти популярных импортных JFET-полевых транзисторов. Вот ссылка на статью:
http://sezador.radioscanner .ru/pages/articles/sources/jfetaerial.htm
http://sezador.radioscanner .ru/pages/articles/sources/jfetaerial.htm